GB/T 36401-2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告

GB/T 36401-2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告

　　Surface chemical analysis—X-ray photoelectron spectroscopy—Reporting of results of thin-film analysis

　　標(biāo)準(zhǔn) 推薦性 現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)《表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告》由TC38(微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì))歸口上報(bào)，TC38SC2(微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)表面化學(xué)分析分會(huì))執(zhí)行，主管部門(mén)為標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)。

GB/T 36401-2018主要起草單位

廈門(mén)荷清教育咨詢(xún)有限公司 、清華大學(xué)化學(xué)系 。

GB/T 36401-2018主要起草人

湯丁亮 、李展平 、岑丹霞 、姚文清 、劉芬 、王水菊 。

GB/T 36401-2018采標(biāo)情況

　　本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13424:2013。

　　采標(biāo)中文名稱(chēng):表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告。

GB/T 36401-2018相近標(biāo)準(zhǔn)(計(jì)劃)

20151802-T-469 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果的報(bào)告
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