GB/T 35306-2017 硅單晶中碳、氧含量的測定 低溫傅立葉變換紅外光譜法

標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 35306-2017

中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：硅單晶中碳、氧含量的測定 低溫傅立葉變換紅外光譜法

英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

中國標(biāo)準(zhǔn)分類號：(CCS)H17

標(biāo)準(zhǔn)分類號：(ICS)77.040

發(fā)布日期：2017-12-29

實(shí)施日期：2018-07-01

主管部門：標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

歸口單位：半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

主要起草單位

昆明冶研新材料股份有限公司 、江蘇中能硅業(yè)科技發(fā)展有限公司 、宜昌南玻硅材料有限公司 、新特能源股份有限公司 、亞洲硅業(yè)(青海)有限公司 、青海黃河上游水電開發(fā)有限責(zé)任公司新能源分公司 、陜西天宏硅材料有限責(zé)任公司 。

主要起草人

張?jiān)茣?、韓小月 、毛智慧 、趙建為 、劉曉霞 、王桃霞 、田洪先 、劉明軍 、銀波 、劉國霞 、蔡延國 、秦榕 、童孟 、錢津旺 、楊紅燕 。

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