GB/T 35445-2017 絲 生絲疵點(diǎn)、條干電子檢測(cè)試驗(yàn)方法

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 35445-2017

中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：絲 生絲疵點(diǎn)、條干電子檢測(cè)試驗(yàn)方法

英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Silk—Electronic test method for defects and evenness of raw silk

標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行

中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：(CCS)W40

標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)：(ICS)59.080.20

發(fā)布日期：2017-12-29

實(shí)施日期：2018-07-01

主管部門：中國(guó)紡織工業(yè)聯(lián)合會(huì)

歸口單位：絲綢標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)

主要起草單位

浙江絲綢科技有限公司 、浙江出入境檢驗(yàn)檢疫局絲類檢測(cè)中心 、浙江凱喜雅股份有限公司 、蘇州大學(xué) 、嘉興埃迪爾絲綢有限公司 、日照海通繭絲綢集團(tuán)有限公司 。

主要起草人

周穎 、董鎖拽 、卞幸兒 、許建梅 、趙志民 、伍冬平 、徐進(jìn) 、潘璐璐 、顧青青 、安霞 。

采標(biāo)情況

本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO標(biāo)準(zhǔn)：ISO 15625:2014。

采標(biāo)中文名稱:絲 生絲疵點(diǎn)、條干電子檢測(cè)試驗(yàn)方法。

相近標(biāo)準(zhǔn)(計(jì)劃)

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