GB/T 38532-2020 微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測定

　　標(biāo)準(zhǔn)號：GB/T 38532-2020

　　中文標(biāo)準(zhǔn)名稱：微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測定

　　英文標(biāo)準(zhǔn)名稱：Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size

　　中國標(biāo)準(zhǔn)分類號

　　(CCS)G04

　　標(biāo)準(zhǔn)分類號

　　(ICS)71.040.40

　　發(fā)布日期

　　2020-03-06

　　實施日期

　　2021-02-01

　　主管部門

　　標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

　　歸口單位

　　微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會

　　主要起草單位

　　中國寶武鋼鐵集團有限公司 、上海發(fā)電設(shè)備成套設(shè)計研究院 、中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所 。

　　主要起草人

　　姚雷 、張作貴 、曾毅 、鄭芳 。

　　采標(biāo)情況

　　本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO標(biāo)準(zhǔn)：ISO 13067:2011。

　　采標(biāo)中文名稱:微束分析 電子背散射衍射 平均晶粒尺寸的測定。

　　相近標(biāo)準(zhǔn)(計劃)

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