陶瓷用瓷石中二氧化鈦與三氧化二鐵檢測技術(shù)研究

一、檢測原理

瓷石中二氧化鈦（TiO?）和三氧化二鐵（Fe?O?）的含量直接影響陶瓷產(chǎn)品的白度、色調(diào)、透光性及燒結(jié)性能。其檢測主要基于物理與化學分析原理。

1. X射線熒光光譜法（XRF）原理：當高能X射線照射樣品時，原子內(nèi)層電子被激發(fā)而電離，產(chǎn)生空穴。外層電子躍遷填補空穴時，釋放出具有特定能量的特征X射線。不同元素特征X射線能量（或波長）不同，通過測定特征譜線波長進行定性分析；通過測定特征譜線強度，并經(jīng)過基體效應、元素間效應等校正，即可進行定量分析。Ti的Kα線與Fe的Kα線分別是其定量分析的基礎(chǔ)。

2. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）原理：樣品經(jīng)消解轉(zhuǎn)化為液態(tài)，通過霧化器形成氣溶膠并導入高溫（約6000-10000K）等離子體炬中。待測元素原子或離子在等離子體中被激發(fā)，躍遷至激發(fā)態(tài)，返回基態(tài)時發(fā)射出元素特征波長的光。通過分光系統(tǒng)與檢測系統(tǒng)對特定波長光譜強度進行測量，其強度與元素濃度成正比，從而實現(xiàn)定量分析。該方法適用于痕量及微量分析。

3. 分光光度法原理：基于物質(zhì)對光的選擇性吸收。Ti??在過氧化氫（H?O?）存在下形成黃色的過鈦酸絡(luò)合物[TiO(H?O?)]²?，在波長410nm附近有大吸收；Fe²?與鄰菲羅啉反應生成橙紅色絡(luò)合物，在波長510nm附近有大吸收。根據(jù)朗伯-比爾定律，溶液吸光度與其濃度成正比，可進行定量測定。

4. 化學滴定法原理（主要針對鐵）：將樣品中的鐵全部還原為Fe²?后，以二苯胺磺酸鈉為指示劑，用重鉻酸鉀標準溶液滴定。根據(jù)消耗的重鉻酸鉀體積計算全鐵含量，以Fe?O?形式表示。

二、檢測項目

檢測項目可根據(jù)元素形態(tài)、含量及檢測目的進行系統(tǒng)分類：

1. 全量分析：測定瓷石中TiO?與Fe?O?的總含量。此為基本、核心的檢測項目，直接用于原料品控與配方計算。

2. 物相分析：分析TiO?與鐵元素在瓷石中的具體礦物存在形式，如TiO?可能以金紅石、銳鈦礦形式存在；鐵可能以赤鐵礦（Fe?O?）、磁鐵礦（Fe?O?）、黃鐵礦（FeS?）或硅酸鹽礦物中的類質(zhì)同象形式存在。此分析對預測其在燒結(jié)過程中的行為至關(guān)重要。

3. 價態(tài)分析（主要針對鐵）：區(qū)分Fe²?與Fe³?的相對含量。Fe²?/Fe³?比值影響陶瓷的燒結(jié)氣氛（氧化/還原）要求及終呈色。

4. 粒度分布與元素賦存關(guān)系分析：通過逐級篩分或沉降分離，分析不同粒度級別的瓷石顆粒中TiO?與Fe?O?的分布情況，為原料的淘洗、除鐵提純工藝提供依據(jù)。

三、檢測范圍

檢測要求覆蓋陶瓷工業(yè)全鏈條：

1. 建筑衛(wèi)生陶瓷：對瓷石原料中Fe?O?含量要求極為嚴格，通常要求低于0.5%（衛(wèi)浴瓷）甚至0.3%（高檔?；u），以確保產(chǎn)品白度。TiO?含量也需控制，過高會引起泛黃。

2. 日用陶瓷與藝術(shù)陶瓷：強調(diào)呈色穩(wěn)定性與釉面質(zhì)感。Fe?O?含量控制依產(chǎn)品風格而異，白瓷要求苛刻，而某些藝術(shù)釉（如鐵銹花）則需特定含量的鐵。

3. 電子陶瓷：對雜質(zhì)離子極為敏感，F(xiàn)e?O?、TiO?等過渡金屬氧化物會嚴重影響介電性能，通常要求含量在ppm級別。

4. 特種工業(yè)陶瓷：如氧化鋁、氮化硅陶瓷用原料，F(xiàn)e?O?等雜質(zhì)會影響高溫力學性能與抗氧化性，需進行痕量分析。

5. 釉料與色料制備：Fe?O?是重要的著色劑，TiO?可作為乳濁劑或助熔劑，其含量與價態(tài)的精確檢測是保證釉料、色料批次一致性的關(guān)鍵。

四、檢測標準

國內(nèi)外標準在方法原理上趨同，但在具體操作、精度要求上存在差異。

對比分析：標準（如ISO、ASTM）更傾向于采用自動化程度高、精密度好的XRF、ICP-OES等儀器方法。中國國標雖已與接軌，但在基層仍廣泛使用分光光度法和滴定法等經(jīng)典濕法化學方法，成本較低。

五、檢測方法

1. X射線熒光光譜法 (XRF)

   • 操作要點：樣品需粉碎至一定細度（通常過200目篩），采用粉末壓片法或玻璃熔片法制樣。熔片法能有效消除礦物效應和粒度效應，結(jié)果更準確。建立或選擇適合瓷石基體的校準曲線至關(guān)重要。

   • 優(yōu)點：快速、無損、多元素同時分析、精度高。

   • 缺點：對輕元素靈敏度低，儀器昂貴，需標準樣品校準。

2. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法 (ICP-OES)

   • 操作要點：樣品前處理是關(guān)鍵。通常采用氫氟酸-硝酸-高氯酸混合酸于聚四氟乙烯坩?中在電熱板上或微波消解儀中完全消解，將硅基體以四氟化硅形式趕除，定容后上機測試。

   • 優(yōu)點：檢出限極低（可達ppb級），動態(tài)線性范圍寬，多元素同時分析，準確性高。

   • 缺點：樣品前處理復雜、耗時，成本高，需將樣品轉(zhuǎn)化為溶液。

3. 分光光度法

   • 操作要點（以鈦為例）：樣品堿熔或酸溶后，在硫酸介質(zhì)中，加入過氧化氫使之顯色。嚴格控制酸度、過氧化氫用量及顯色時間，避免干擾離子（如Fe³?，可加磷酸掩蔽）的影響。使用1cm或2cm比色皿于410nm波長下測定吸光度。

   • 優(yōu)點：設(shè)備簡單，操作簡便，成本低。

   • 缺點：流程長，人為誤差大，適用于含量不高、批量不大的樣品。

4. 化學滴定法（鐵）

   • 操作要點：樣品溶解后，用氯化亞錫或鋅粒將Fe³?還原為Fe²?，過量的還原劑需用氯化汞或高錳酸鉀除去（涉及汞鹽的方法應注意環(huán)保替代）。在硫磷混酸條件下，用重鉻酸鉀標準溶液滴定至紫色為終點。

   • 優(yōu)點：經(jīng)典、準確，設(shè)備要求極低。

   • 缺點：步驟繁瑣，使用有毒試劑，僅能測定總鐵量。

六、檢測儀器

1. 波長色散X射線熒光光譜儀 (WD-XRF)：采用分光晶體對特征X射線進行分光，分辨率高，精度好，是主流的高精度分析設(shè)備。

2. 能量色散X射線熒光光譜儀 (ED-XRF)：采用半導體探測器直接檢測X射線能量，無需分光晶體，結(jié)構(gòu)緊湊，分析速度快，適用于現(xiàn)場快速篩查。

3. 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀 (ICP-OES)：由進樣系統(tǒng)、ICP光源、中階梯光柵分光系統(tǒng)、檢測器組成。具有極高的溫度與穩(wěn)定性，抗干擾能力強，尤其適合復雜基體中的痕量元素分析。

4. 紫外可見分光光度計：由光源、單色器、樣品室、檢測器及顯示系統(tǒng)組成。核心指標包括波長精度、光度精度和雜散光。

5. 微波消解系統(tǒng)：與ICP-OES或AAS聯(lián)用，用于快速、安全、完全地消解樣品，減少試劑用量和元素損失。

6. 粉末壓片機與熔樣機：XRF分析的前處理關(guān)鍵設(shè)備，用于制備均勻、平整的測試樣片。

七、結(jié)果分析

1. 數(shù)據(jù)有效性判斷：

   • 精密度：通過平行樣品的相對標準偏差（RSD%）評估，通常要求RSD% < 5%（含量>1%時）或 < 10%（含量較低時）。

   • 準確度：通過分析有證標準物質(zhì)（CRM）或參加能力驗證，計算測定值與標準值的相對誤差。

   • 回收率：對于化學法，可通過加標回收實驗驗證，回收率一般要求在95%-105%之間。

2. 結(jié)果評判標準：

   • 依據(jù)采購合同或產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書：將檢測結(jié)果與雙方約定的技術(shù)指標直接對比，判定該批原料是否合格。

   • 參照行業(yè)通用質(zhì)量等級：例如，特級高嶺土要求Fe?O? < 0.5%，TiO? < 0.3%。瓷石可參照類似分級。

   • 結(jié)合工藝實驗進行綜合評判：檢測數(shù)據(jù)需與實驗室小樣燒結(jié)試驗結(jié)果相關(guān)聯(lián)。即使Fe?O?含量略高于標準，但若燒結(jié)后白度能滿足要求，亦可酌情接受。反之，即使含量達標，但因其物相或分布問題導致黑點、色斑，則判定為不合格。

3. 趨勢分析：對長期供應商的原料檢測數(shù)據(jù)進行趨勢分析，監(jiān)控其質(zhì)量波動，為生產(chǎn)工藝微調(diào)提供預警。例如，F(xiàn)e?O?含量呈緩慢上升趨勢時，應提前在配方中考慮增加適量硅酸鋯等增白劑。

綜上所述，對陶瓷用瓷石中TiO?與Fe?O?的檢測是一個多方法、多層次的系統(tǒng)性工作。選擇何種方法取決于對檢測精度、速度、成本及信息維度的綜合需求?，F(xiàn)代化的XRF與ICP-OES是主流發(fā)展方向，而經(jīng)典的化學法在特定場景下仍具應用價值。準確的結(jié)果分析不僅是原料驗收的依據(jù)，更是指導陶瓷生產(chǎn)工藝優(yōu)化、提升產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵。