耐漏電起痕試驗(yàn)

耐漏電起痕試驗(yàn)項(xiàng)目報(bào)價？??解決方案？??檢測周期？??樣品要求？

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　　耐漏電起痕試驗(yàn)是檢驗(yàn)各類材料或電子電器在規(guī)定的條件下是否能形成漏電痕跡，測試樣品的使用安全性。

檢測類型

　　PCB，插頭，絕緣材料，家用電器，硅橡膠，線路板等。

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

　　CEI EN 60112/A1-2012IEC 60112：2003 固體絕緣材料在潮濕條件下相對漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)測定方法

　　2CEI EN 60112-2003IEC 60112：2003 固體絕緣材料在潮濕條件下相對漏電起痕指數(shù)和耐漏電起痕指數(shù)測定方法

　　3GB/T 1411-2002干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗(yàn)

　　4JIS C2136-2004在嚴(yán)酷的大氣環(huán)境下使用的電絕緣材料耐漏電起痕蝕損的評價的試驗(yàn)方法