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耐電痕化指數(shù)測定檢測項目報價???解決方案???檢測周期???樣品要求? |
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耐電痕化指數(shù)(Comparative Tracking Index, CTI)是評估絕緣材料在電場和污染環(huán)境下抗電痕形成能力的關(guān)鍵參數(shù),廣泛應(yīng)用于電氣設(shè)備、電子元件、絕緣材料的生產(chǎn)與質(zhì)量控制中。電痕化現(xiàn)象是指材料表面在電場作用下因局部放電或污染物作用形成導(dǎo)電通道的過程,可能導(dǎo)致絕緣失效甚至火災(zāi)風(fēng)險。通過CTI測定,可以篩選出適合不同電壓等級和應(yīng)用場景的材料,保障電氣設(shè)備的安全性和可靠性。電工委員會(IEC)及各國標(biāo)準(zhǔn)組織均將CTI作為評價絕緣材料性能的重要指標(biāo),其測定結(jié)果直接關(guān)系到材料在高壓、高濕、多污染環(huán)境中的使用壽命。
耐電痕化指數(shù)測定主要圍繞以下核心項目展開:
耐電痕化指數(shù)測定需使用儀器,主要包括:
儀器需定期校準(zhǔn)電極間距、液滴體積及電壓精度,確保測試結(jié)果的重復(fù)性與準(zhǔn)確性。
耐電痕化指數(shù)測定的標(biāo)準(zhǔn)流程包括以下步驟:
耐電痕化指數(shù)測定需嚴(yán)格遵循以下標(biāo)準(zhǔn):
測試報告中需明確標(biāo)注依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、試驗條件、樣品信息及CTI分級結(jié)果(如CTI≥600為高級1級),為材料選型提供科學(xué)依據(jù)。
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